固緯GPT-9804安規(guī)測試儀 200VA測試容量 手動/自動 測試模式 具快速選擇功能鍵 高亮度警示及狀態(tài)指示燈 零點(diǎn)輸出 輸出電壓上升時間控制 True RMS電流量測 高分辨率: 1uA（電流量測）, 2V（電壓設(shè)定） 使用PWM放大器, 確保測試效益及測試可靠性 提供100組記憶, 以儲存測試條件, 且每個記憶組可獨(dú)立命名

固緯GPT-12001電氣安全分析儀 1、200VA交流測試容量 2、符合IEC 61010-2-034安全規(guī)范要求 3、7“ LCD彩色顯示屏 4、True RMS電流量測 5、電容負(fù)載測試能力高達(dá)47μF 6、提供統(tǒng)計(jì)分析/掃描功能 7、上升/下降時間可調(diào) 8、測試數(shù)據(jù)U盤儲存功能 9、提供后面板輸出，過零啟動操作

固緯GCT-9040 40A交流接地阻抗測試儀 40A交流接地阻抗測試 電阻量測范圍1mΩ~650mΩ 可與GPT-9800/9900系列連接，組成多功能測試或同步測試系統(tǒng) 240x64冰藍(lán)色點(diǎn)矩陣LCD 具功能鍵快速選擇 高亮度的警示和狀態(tài)指示燈 使用PWM放大器設(shè)計(jì)，確保測試效益和測試可靠性 100組面板設(shè)定條件記憶組 前面板REMOTE接口，可供遙控控制器連接

固緯GPT-9901A安規(guī)測試儀 500VA測試容量 大型（240x64）點(diǎn)矩陣式LCD 掃描功能, 提供待測物特性分析 絕緣電阻量測可達(dá)50GΩ 手動/自動測試模式 具快速選擇功能鍵 高亮度警示及狀態(tài)指示燈 具Interlock功能 零點(diǎn)輸出 輸出電壓上升時間控制 True RMS電流量測 高解析度: 1uA（電流量測）, 2V（電壓設(shè)定） 使用PWM放大器, 確保測試

固緯GPT-9902A安規(guī)測試儀 500VA測試容量 大型（240x64）點(diǎn)矩陣式LCD 掃描功能, 提供待測物特性分析 絕緣電阻量測可達(dá)50GΩ 手動/自動測試模式 具快速選擇功能鍵 高亮度警示及狀態(tài)指示燈 具Interlock功能 零點(diǎn)輸出 輸出電壓上升時間控制 True RMS電流量測 高解析度: 1uA（電流量測）, 2V（電壓設(shè)定） 使用PWM放大器, 確保測試

固緯GPT-9903A安規(guī)測試儀 500VA測試容量 大型（240x64）點(diǎn)矩陣式LCD 掃描功能, 提供待測物特性分析 絕緣電阻量測可達(dá)50GΩ 手動/自動測試模式 具快速選擇功能鍵 高亮度警示及狀態(tài)指示燈 具Interlock功能 零點(diǎn)輸出 輸出電壓上升時間控制 True RMS電流量測 高解析度: 1uA（電流量測）, 2V（電壓設(shè)定） 使用PWM放大器, 確保測試

固緯GPT-9904安規(guī)測試儀 500VA測試容量 大型（240x64）點(diǎn)矩陣式LCD 掃描功能, 提供待測物特性分析 絕緣電阻量測可達(dá)50GΩ 手動/自動測試模式 具快速選擇功能鍵 高亮度警示及狀態(tài)指示燈 具Interlock功能 零點(diǎn)輸出 輸出電壓上升時間控制 True RMS電流量測 高解析度: 1uA（電流量測）, 2V（電壓設(shè)定） 使用PWM放大器, 確保測試效

固緯GPT-9801安規(guī)測試儀 200VA測試容量 手動/自動 測試模式 具快速選擇功能鍵 高亮度警示及狀態(tài)指示燈 零點(diǎn)輸出 輸出電壓上升時間控制 True RMS電流量測 高分辨率: 1uA（電流量測）, 2V（電壓設(shè)定） 使用PWM放大器, 確保測試效益及測試可靠性 提供100組記憶, 以儲存測試條件, 且每個記憶組可獨(dú)立命名

固緯GPT-9802安規(guī)測試儀 200VA測試容量 手動/自動 測試模式 具快速選擇功能鍵 高亮度警示及狀態(tài)指示燈 零點(diǎn)輸出 輸出電壓上升時間控制 True RMS電流量測 高分辨率: 1uA（電流量測）, 2V（電壓設(shè)定） 使用PWM放大器, 確保測試效益及測試可靠性 提供100組記憶, 以儲存測試條件, 且每個記憶組可獨(dú)立命名

固緯GPT-9803安規(guī)測試儀 200VA測試容量 手動/自動 測試模式 具快速選擇功能鍵 高亮度警示及狀態(tài)指示燈 零點(diǎn)輸出 輸出電壓上升時間控制 True RMS電流量測 高分辨率: 1uA（電流量測）, 2V（電壓設(shè)定） 使用PWM放大器, 確保測試效益及測試可靠性 提供100組記憶, 以儲存測試條件, 且每個記憶組可獨(dú)立命名